四探針粉末電阻測試儀 四探針粉末電阻測試儀

適用行業(yè)：:

用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數(shù)據(jù).

雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。

基本原理

探針排布與電流注入?

四根探針（通常為鎢絲或碳化鎢材質(zhì)）以等間距直線排列，外側(cè)兩探針（1、4號）通入恒定電流I，內(nèi)側(cè)兩探針（2、3號）測量電壓降V。

電流源范圍通常為1μA~100mA，電壓表精度可達±0.1%

技術優(yōu)勢

接觸電阻消除：電壓測量回路電流極小，探針接觸電阻及導線電阻可忽略，尤其適合高電阻率材料（如半導體）或薄膜測量。

無損檢測?：無需制備電極，對脆性材料（如硅片）無損傷。

寬量程覆蓋：測量范圍可達10??~10?Ω·cm電阻率及10??~10?Ω/□方塊電阻。

選擇適合導電粉末的電阻率測試儀需結(jié)合材料特性、測試精度及設備功能，以下是關鍵選擇要點：

一、測試方法適配性

四探針法?

適用于高精度測量，通過四根等間距探針消除接觸電阻誤差，尤其適合薄層或壓片導電粉末（如石墨烯、金屬粉）。

需確保探針材料為鉑或金，以提升穩(wěn)定性和導電性。

二電極法?

操作簡單，適合塊狀或厚層樣品，但需通過高壓（）壓制粉末以減少接觸電阻影響。

二、核心性能要求

測量范圍與精度?

導電粉末電阻率通常較低（如10^-6～103Ω·cm），需選擇量程覆蓋此范圍且精度≤0.3%的儀器。

電導率計算需支持自動轉(zhuǎn)換（σ=1/ρ）。

環(huán)境控制?

溫濕度補償功能（如23±2℃、50±5%RH）可減少環(huán)境干擾。

三、樣品處理與設備功能

粉末壓片配套?

需搭配壓片機將粉末壓制成標準試樣（直徑15mm），確保密度和厚度一致性。

壓力控制精度需達±0.05MPa，避免孔隙率影響結(jié)果。

自動化與數(shù)據(jù)管理?

優(yōu)選支持自動加載、實時數(shù)據(jù)記錄及曲線繪制的設備。

四、典型應用場景

電池材料?：如鋰電正極粉末，需同步測試電阻率-壓實密度關系。

金屬粉末?：需高電流（如300A）測試以模擬實際導電路徑。

參數(shù)：

高溫塑料薄膜電阻率測定儀恒溫范圍選擇方法

鉑薄膜RTD 高可測850℃，但塑料薄膜基材通常承受不了這么高溫度。這說明恒溫范圍選擇要先考慮材料耐溫性，而非儀器極限值。比如聚酰亞胺薄膜通常不超過400℃，而PE薄膜測試溫度可能只需80-120℃。

需要分三個維度建議：材料特性（分解溫度/相變點）、測試目的（質(zhì)量控制/科研）、環(huán)境要求（氣氛保護）。尤其要提醒用戶注意GB/T 1410標準中要求的預處理溫度和時間，這些都會影響恒溫范圍設定。

選擇高溫塑料薄膜電阻率測定儀的恒溫范圍需綜合材料特性、測試標準及儀器性能，具體方法如下：

 一、根據(jù)材料特性選擇材料耐溫上限?

常見塑料薄膜（如PI、PET、PEI）的軟化點通常為 ?200℃~400℃?，測試溫度應低于材料分解溫度 ?20~50℃?，避免形變或性能劣化影響數(shù)據(jù)準確性。

例如：聚酰亞胺（PI）薄膜建議恒溫范圍 ?≤350℃?。

?相變點或玻璃化轉(zhuǎn)變溫度（Tg）?

測試溫度需覆蓋材料關鍵相變點（如Tg、熔點），例如研究導電薄膜時需包含 ?室溫~200℃? 區(qū)間以觀察電阻率突變。

二、匹配測試標準與實驗目的標準規(guī)范要求?

GB/T 10518-2006 規(guī)定絕緣材料高溫電阻測試需在 ?100℃~500℃? 范圍進行。

ASTM D257 建議測試溫度至少比材料 高使用溫度高 ?25℃?。

?功能需求?

若需研究溫度-電阻率曲線，恒溫范圍應覆蓋 ?材料 低工作溫度至 高失效溫度?（如 ?-70℃~300℃?）。

僅需高溫點測試（如150℃質(zhì)量控制），可選單點恒溫機型。

??? 三、儀器性能關鍵參數(shù)

?溫控范圍與精度?

優(yōu)先選擇寬溫域機型：如 ?GDW-500?（?-160℃~500℃?）或 ?HTIM-1000?（真空/氣氛環(huán)境）。

控溫精度需 ?≤±0.5℃?（如GDW-500），避免波動導致阻值漂移。

?溫場均勻性?

樣品區(qū)域溫差應 ?<±2℃?，確保薄膜受熱均勻?？赏ㄟ^紅外熱成像驗證設備溫場分布。

四、操作限制與風險規(guī)避

?儀器工作環(huán)境約束?

多數(shù)電阻率測試儀主機僅適應 ?0℃~40℃? 環(huán)境，高溫測試需外接獨立溫控腔體（如GDW-500的液氮制冷系統(tǒng)）。

?樣品預處理要求?

高溫測試前需在目標溫度下恒溫 ?≥30分鐘?，消除熱歷史效應。

?? 選型推薦表

?材料類型? ?建議恒溫范圍? ?? ?關鍵優(yōu)勢?

?通用塑料薄膜? 室溫~300℃  性價比高，操作簡便

?耐高溫薄膜? -70℃~500℃  寬溫域，液氮制冷，精度±0.5℃

?導電/半導體膜? 真空環(huán)境~600℃  鉑電極防氧化，支持氣氛控制

?注?：極端條件測試（如>500℃）需定制設備，并確認電極材料（如鉑金）與夾具的耐溫性

體積電阻率測定儀，表面電阻率測定儀，體積表面電阻測試儀，絕緣材料電阻率測定儀，橡膠電阻率測試儀，塑料薄膜體積表面電阻率測定儀，體積電阻率表面電阻率測定儀，固體絕緣材料表面電阻率測試儀，電阻率測試儀,液體體積電阻率測定儀，粉體體積電阻率測定儀，三電極法體積表面電阻測定儀

能測試體積電阻率和表面電阻率實現(xiàn)目前市場測量量程寬

高阻測量一定要嚴格按使用方法步聚進行，否則有可能造成儀器 損壞或電人。

適用材料：

橡膠、塑料、聚酯薄膜、膠片、硅膠、光伏組件、汽車零部件、復合材料、陶瓷、玻璃、云母、樹脂等固體絕緣材料。配備不同電極還可測試液體、粉末材料。

體積，幾何學專業(yè)術語，是物件占有多少空間的量。體積的國際單位制是立方米。一件固體物件的體積是一個數(shù)值用以形容該物件在三維空間所占有的空間。一維空間物件（如線）及二維空間物件（如正方形）在三維空間中都是零體積的。

擴展資料：

體積計算方法：

體積公式是用于計算體積的公式，即計算各種幾何體體積的數(shù)學算式。比如：圓柱、棱柱、錐體、臺體、球、橢球等。

體積公式：計算各種由平面和曲面所圍成。

一般來說一個幾何體是由面、交線（面與面相交處）、交點（交線的相交處或是曲面的收斂處）而構成的圖形的體積的數(shù)學算式